光學特性參數測量儀器，如光譜儀、輻射計/光度計、激光功率計、激光能量計、脈衝寬度探測器、光束質量分析儀/光束輪廓儀、高速偏振光相機等
博源光電-緊湊型光譜儀及光功率計
博源光電提供波長從180nm到1700nm的緊湊型光譜儀，以及光電二極管/熱電堆型光功率計。
EOC-相干-脈衝寬度測量用光電探測器
EOC的光電探測器在世界各地的實驗室中用於脈衝寬度測量和脈衝輪廓應用，如監測脈衝激光器、鎖模激光器和外部調製連續激光器的輸出
Photonic Lattice -偏振光學元件和偏振高速相機
我們不限於提供偏振光學元件，我們也提供基於偏振元件的獨特的產品，如我們專有的雙折射測量系統、偏振高速相機、超高速和高靈敏度熱成像相機以及二氧化碳成像系統。
Dataray- 光斑輪廓儀
DataRay是符合ISO標準的激光束輪廓儀的領先製造商
International Light-光度計、輻射計、光譜光度計、光譜輻照度計
我們提供一系列光測量產品和設備，包括光度計、輻射計、光譜光度計和光譜輻射計，適用於紫外線、可見光和紅外測量。
HAAS-高功率激光束分析儀
HAAS激光束分析儀系統是模塊化設計。該系統包括軟件、相機、光束減少光學器件、衰減模塊和濾波器，能夠實現從低功率到高功率連續波和脈衝激光器的“實時”激光束診斷。
博源光電成立於2012年，位於中國杭州。
是一家專業生產科學教育儀器和光子學儀器的公司。我們生產各種物理、光電專業的實驗教學培訓套件, 以及以光譜、光強度分析為基礎的測量儀器及解決方案，為客戶帶來高質量、實惠和可靠的產品。
博源光電的光分析產品，包含光譜儀系列和光功率系列：
光譜儀產品系列：
| 描述 | 參考圖片 | 產品系列 | 波長（nm） |
光學分辨率 FWHM（nm） |
備註說明 |
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VIS-NIR 小型光譜儀 |
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BIM-6001A | 315~1100 | 1~0.35 | |
| BIM-6002A | 180~1100 | ||||
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VIS-NIR 高分辨率光譜儀 |
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BIM-6601A | 315~1100 | 0.35~0.08 | |
| BIM-6602A | 180~1100 | 0.35~0.1 | |||
| BIM-6606 | 200~1100 | 0.35~0.06 | |||
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UV-NIR 高靈敏度光譜儀 |
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BIM-6703 | 200~1100 | 1~0.35 | 在 500-900nm區間具備高靈敏度，適合拉曼應用 |
| BIM-6704 | 在 200-500nm區間具備高靈敏度，適合UV波段 | ||||
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UV-NIR 高靈敏度高分辨率光譜儀 |
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BIM-6603 | 200~1100 | 1~0.1 | 在 500-900nm區間具備高靈敏度，適合拉曼應用 |
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NIR 光譜儀 |
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BIM-6805 | 950-1700 | ~10nm | |
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BIM-6809 | 920-1700 | ~5nm |
光功率計產品系列：
| 通訊方式 | 傳統表頭 | USB | BT | |
| 產品描述 |
探頭直接通過功率計表頭輸出數據（可直接顯示或USB連接PC） |
USB或USB Hub作為通訊接口，通過在PC端直接顯示 |
通過BT進行數據傳輸，直接顯示在安卓移動端，如手機或平板 |
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可選探頭 |
Si, 380~1100nm 功率密度：10mW/cm2 |
√ | √ | × |
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UV-Si, 80~1100nm 功率密度：1mW/cm2 |
√ | √ | × | |
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InGaAs: 800~1650nm 功率密度：10mW/cm2 |
√ | √ | × | |
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Thermopile: 0.19~20um 功率密度：10kW/cm2 |
√ | × | √ | |
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其他 |
光電型探測器，可配置積分球 | |||
Photonic Lattice於2002年在日本仙臺創立。其核心技術是光子晶體技術，利用濺射技術將不同軸向的微偏振器陣列自由圖案化並堆疊在單個晶片上。這項技術被用作光通信（偏振複用）、半導體（使用DUV光進行檢查）、精密處理（光束整形）和其他各領域設備的核心部件。
如今，通過特殊光學和計算算法等應用技術的研發，Photonic Lattice已經實現了專有的雙折射測量系統、偏振高速相機、超高速高靈敏度熱成像相機、二氧化碳成像系統等獨特的產品，使我們能夠對以前很難呈現的現象進行可視化和測量。
產品：
我們使用我們獨特的光學技術提供光學元件、光學模塊、檢測設備、定製開發和合同測試服務。
- ● 光子晶體偏振光學元件
- ● 2D雙折射測量系統
- ● 在線/離線映射型雙折射測量系統
- ● 高速紅外攝像機/紅外測量設備
- ● 高速偏振相機
- ● 偏振成像相機
- ● 厚度和折射率測量(橢圓測量法)
2D雙折射測量系統
PA/WPA系列系統提供透明材料的高速雙折射測量，例如用於殘餘應力評估的透明部件，或用於相位均勻性評估的透明膜。從微觀到宏觀（～50cm），視野適用於任何測量情況，可按材料尺寸選配不同的產品。
- ● PA系列以500萬像素的高分辨率高速測量雙折射和相位差，測量範圍為0至130nm的低相位差。適用於玻璃器皿和其他低相位差目標的測量。
- ● WPA系列通過測量三波長的雙折射/相位差分佈，將相位差的測量範圍從0擴展到3500nm。適用於測量大型透明樹脂產品。
PA/WPA-NIR 系列
該系統在850nm波長下工作，為在可見光波長下不透明的工件的工藝和質量控制提供了強大的工具，如激光雷達和人臉識別系統中使用的特殊樹脂和硫族(元素)化物。
在線/離線映射型雙折射測量系統
使用KAMAKIRI對整個薄膜表面進行檢查。因此，即使突然發生光學不規則，也可以實時生成警報，以防止任何缺陷區域流出。
從“可視化”到“自動檢測”防止不良產品流出和快速檢測缺陷
- ● 隨著顯示器在分辨率和對比度方面變得更高，並且隨著製造商提高圖像質量，正在追求薄膜平面內的高度相移和主軸取向均勻性。
- ● 此外，從環境角度來看，指定要處理的生產批次和薄膜修剪區域變得很重要。
- ● 通過使用KAMAKIRI，它結合了一個獨特的偏振高速相機和掃描系統，現在可以在極短的時間內，在生產線和研究實驗室中，高精度地檢查和記錄薄膜平面中的雙折射。
大量安裝成果
- ● 自2014年底推出以來，日本、韓國和中國的光學薄膜製造商和玻璃/透鏡成型製造商已經安裝了50多個KAMAKIRI系列產品。
- ● 特別是對於光學薄膜製造商來說，有許多不同類型的生產線，每條生產線都有不同的要求。
- ● 我們製造並安裝了寬度為200mm的小型系統和寬度超過5m的大型系統。
- ● 通過確認客戶生產線的狀態，我們可以提出符合的系統配置。
高速紅外攝像機/紅外測量設備
我們提出了一種基於世界上高級別的高速高靈敏度紅外相機技術的紅外研發測量系統。它適用於各種新的應用，如高速溫度測量、CO2氣體可視化或焊接溫度分析。
瞬時溫度變化的可視化
- ● 使用我們的冷卻紅外高速相機，通過將圖像傳感器冷卻至-190°C，將熱噪聲降低到最大限度，實現了過去難以實現的高精度、高速熱成像測量。
- ● 這使得可以精確地測量高速現象，例如拉伸試驗中斷裂瞬間的溫度上升、激光加工過程中工件的溫度上升或高速移動物體的溫度測量。此外，通過以高精度檢測極小的溫度變化，可以評估例如半導體芯片在操作期間的溫度上升或在溫度上升期間液體中的溫度不規則性。
CO2氣體可視化
- ● 通過可視化不可見的氣體，如CO2、甲烷、乙烷、乙醇、甲苯等，可以檢測和量化管道、呼氣流的洩漏，或者使用CO2表徵裸氣流；氣體作為一種廉價的示蹤劑。
- ● 當可視化CO2時，一個特別關注的問題是它通常很難與水蒸氣區分開來。
- ● 另一方面，CO2相機可以通過對特定波長的紅外吸收進行光譜過濾來區分氣體。
- ● 在4.3微米波段，二氧化碳比水蒸氣吸收能力強得多，因此可以克服這一問題。
高速偏振相機
CRYSTA是世界上速度最快的高速偏振相機，可以實時顯示透明材料的內部應力和取向結構。它在生物技術、國防或航空航天技術等各個研發領域都有很大幫助。
- ● 材料加工過程中內部應力分佈的可視化和加工條件的分析
- ● 衝擊試驗/斷裂中裂紋周圍應力傳播的評估
- ● 液晶/晶體材料晶軸和取向狀態的動態觀測
- ● 粘彈性和軟物質產生的流動應力分佈可視化
偏振態可以測量和可視化各種物理量和物理性質。
- ● 偏振是“沿規則方向振動的光”，人眼無法識別。由於偏振態的變化取決於透射物體的內部結構和反射物體的表面形狀，通過測量入射光和透射光到物體的偏振態，可以應用於各種物理量的測量和現象的可視化。
- ● 此外，“偏振”和“高速成像”技術的結合將實現以前難以想象的新圖像分析，例如從圖像中檢查透明材料加工過程中施加在工具上的載荷，可視化衝擊試驗和流動現象中的應力傳播和弛豫過程，以及以非接觸方式定量測量取向膜的空間性能均勻性。
偏振成像相機
PI/WPI相機能夠作為正常圖像一樣實時獲得偏振信息，並具有高分辨率。它們被用於許多領域，包括使用偏振特徵識別暗物體、激光束的實時偏振監測等。
除了記錄線偏振度（DOLP）和主軸方位角的PI功能外，WPI還提供了斯托克斯參數和偏振度（DOP）的全面記錄，這在部分偏振情況下是必要的。
通過偏振效應觀察表面凸起
偏振允許檢測使用普通相機難以看到的小邊緣和表面不規則性。偏振成像在觀察黑暗物體時尤其閃耀。
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| 普通圖像 |
偏振圖像 在偏振圖像上可以清楚地看到表面凸起。 |
新材料評估（比如碳纖維…）
使用反射光，偏振可以用於實時觀察和量化CFRP（碳纖維增強聚合物）樣品中纖維的取向。
新材料評估
WPI全偏振成像
市場上的偏振相機，包括PI，只提供有限的偏振信息，而不是整個畫面。
與這種相機相比，WPI系統可以訪問完整的斯托克斯參數，允許在右旋、左旋、橢圓和圓偏振態之間進行辨別。此外，WPI系統區分偏振光和非偏振光，並且不會將橢圓偏振與非偏振光混合。WPI系統是全偏振測量的最佳選擇。
藍色部分為右旋圓偏振（RCP），紅色部分為左旋圓偏振（LCP）
厚度和折射率測量(橢圓測量法)
這些系統測量超薄膜的厚度和折射率。它們實現了對完整二維分佈的高速測量，可縮放到微尺度區域。它們主要用於半導體晶片和顯示面板的評估。
現在可以以高分辨率對薄膜厚度和折射率進行高速、無損、高精度的測量。
我們支持質量管理和過程控制，提供豐富的數據量和可適應您需求的軟件功能。
高速
全面積晶圓（高達12英寸）的高速評估。
使用豐富的數據量，您可以為故障排除過程提供反饋，並將質量控制提升到一個新的水平。
- ● 厚度測量從“點”升級為全面的“表面”評估
- ● 全表面評估為過程評估提供了很好的見解
高分辨率【ME-210（-T）】
ME-210（-T）除了具有高達12英寸的晶片的大表面測量能力外，還提供了高分辨率模式，可以放大到幾微米小的區域。
測量區域尺寸：最大12 inches（標準：8 inches）
光斑大?。?/p>
- 標準模式：0.55mm
- 中間模式：55μm
- 高分辨率模式：5.5μm
可提供透明基板的薄膜測量
使用ME-210-T，我們可以對通常難以使用標準橢圓偏振技術進行評估的物體進行評估，例如OLED的有機薄膜等。
簡潔緊湊【SE-101】
使用ME-210-T，我們可以對通常難以使用標準橢圓偏振技術進行評估的物體進行評估，例如OLED的有機薄膜等。
DataRay成立於1988年，美國加利福尼亞州。
DataRay是符合ISO標準的激光光束輪廓儀的製造商。我們提供各種激光束輪廓解決方案，為光子學行業帶來高質量、經濟實惠和可靠的產品。我們的解決方案包括激光光束輪廓相機、掃描狹縫光束輪廓儀、M²測量系統和專用光束輪廓儀系統。我們為各種應用和波長提供解決方案。我們的光束輪廓系統在美國設計和製造，並提供3年保修。
DataRay率先推出：
- ● 適用於Windows的光束分析軟件
- ● 兼容Windows 95的CCD光束輪廓相機
- ● CCD電子快門的軟件控制
- ● 具有Micron功能的線性掃描雙模狹縫/刀刃光束輪廓儀，完全符合ISO 11146光束輪廓儀標準
- ● 用於聚焦光束、準直和M²測量的緊湊型多平面掃描頭
- ● 14位ADC數字百萬像素CCD光束輪廓相機
- ● USB 2.0端口供電的光束輪廓相機
- ● Windows 7支持
DATARAY的優勢：
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廣泛的應用 產品特點：
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寬帶寬 DataRay的產品組合涵蓋從DUV到FIR的波長 |
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用戶無隱藏成本 所有DataRay系統均提供3年保修；在此期間內的任何必要維修都是免費的，包括零件和人工（不包括客戶造成的損壞） |
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符合ISO 11146 的光束輪廓儀 我們使用的XY平面掃描狹縫運動嚴格符合標準的要求，即在垂直於傳播軸的平面上進行狹縫或刀刃掃描 |
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免費、友好的軟件 我們為您的產品提供多功能軟件和免費下載的更新 |
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全球化的本地支持 你總能在附近找到當地的專業經銷商。在中國，請聯繫科藝儀器各辦事處。 |
DataRay的產品系列：
1. 光束輪廓相機
DataRay生產三個系列的光束輪廓相機：WinCamD、BladeCam和TaperCamD相機。這些基於CMOS和VO微測輻射熱計的相機覆蓋了從190 nm到16μm的不同波長。
2. 掃描狹縫光束剖面儀（Si、Ge和InGaAs探測器）
DataRay生產兩種類型的掃描狹縫光束輪廓儀：獲得專利的BeamMap系列，提供實時M²、發散角、聚焦和對準管理，以及beam'R系列，提供價格合理、緊湊和精確的光束輪廓。我們所有的掃描狹縫光束輪廓儀都配有Si、Ge和InGaAs探測器，覆蓋波長從190 nm到2500 nm。
3. 專用光束剖面儀系統（受客戶啟發）
除了光束輪廓相機和掃描狹縫光束輪廓儀，DataRay還提供專門的光束輪廓儀系統。這些系統為複雜的應用程序提供瞭解決方案。大光束輪廓系統適用於高達200mm圖像區域的光束，而線激光輪廓系統提供了高達200mm長度的線激光的直接測量。
4. 附件
DataRay提供各種光束輪廓儀配件，涵蓋光束衰減、光學、平移臺、紫外線和紅外線轉換器等。
Haas Laser Technologies（Haaslti）是定製激光束傳輸組件的創新者。由Gilbert Haas於1992年創立，公司的使命是為創新、可靠性和質量制定行業標準。Haaslti在新澤西州法蘭德斯擁有35000多平方英尺的工廠，在全球範圍內提供各種激光束傳送組件。我們的資源包括經驗豐富的工程師、先進的製造業和先進的機器車間。
遠東和歐洲的經銷商已經證明了Hass在全球範圍內提供和支持其產品的承諾。毫不奇怪，Hass已經成為激光束傳送系統領域公認的世界領導者之一。
Haas目前已有數千種產品在世界各地的克萊斯勒、通用汽車、福特、通用電氣、法國航空和惠普等公司安裝，並以每週7天、每天24小時連續運行。
主要產品包括：
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● 激光束診斷 在每一種激光應用中，激光束輪廓都為最有效地使用激光提供了有價值的信息。通過監測激光束的空間輪廓、圓度、質心、散光和M2值，您可以對激光和整個光束傳輸光學系統的任何問題發出早期警示。這些與提高質量、工藝可靠性和減少廢料有關。 HAAS的激光束分析儀系統是模塊化設計。該系統包括軟件、相機、光束衰減光學系統、衰減模塊和濾波器，可實現從低功率到高功率CW和脈衝激光器的“實時”激光束診斷。該設計提供近場和遠場瞬時激光束測量、分析和監控，“無移動部件”。 BA-CAM和BWA-CAM軟件是根據ISO 11146和ISO 13694國際標準設計的?；度珗D像的二階矩技術、刀口和方程擬合（高斯、超高斯和超圓環）技術用於確定快速可靠的標準光束參數。 計算結果可以以表格形式查看，也可以記錄以查看隨時間的變化。可視化窗口包括X軸和Y軸圖、激光束的3D視圖、直方圖和數據庫報告。 |
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BA-CAM 光束分析儀（BA-CAM）提供對激光空間分佈、激光功率、光束直徑、光束橢圓度、光束中心和光束質心的“實時”遠場觀察、測量、分析和監控。BA-CAM還可以監測激光束的退化、穩定性、功率、對準和調整。 |
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BWA-CAM 束腰分析儀（BWA-CAM）提供“實時”近場M2測量且無需移動部件。（BWA-CAM）提供對激光束和所有有源光學元件的即時分析和監測。 |
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BA-CAM + BWA-CAM 雙系統結合了光束分析儀（BA-CAM）和束腰分析儀（BWA-CAM），可提供激光束的“實時”近場和遠場觀察、測量和分析。 |
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BWA-MON BWA-MON是為大多數應用和激光波長的光束分析儀（BA-CAM）和束腰分析儀（BWA-CAM）配置的模塊化聚焦頭設計。該設計不包含“移動部件”，可對激光束及其光學元件進行即時測量和分析。 |
關於International Light
五十多年來，International Light一直在開發滿足廣泛需求並解決各種挑戰的產品和解決方案。ILT將照明和光測量專業知識相結合，為客戶提供出色的產品和服務。
International Light Technologies( ILT) 是在Gilway與IL合併後成立的。Gilway Technical Lamp和International Light在為客戶提供模範服務、準時交貨和技術專業知識方面享有悠久而自豪的聲譽。Gilway成立於1969年，為客戶提供全光譜光源的現成和定製解決方案。自1965年以來，International Light一直通過設計和製造各種光測量儀器，包括市場上準確的照度計，來解決光測量的固有困難。
2022年2月，ILT被Ocean Insight收購。ILT的辦公室、研發、經過認證的先進的測試和校準實驗室、倉庫及其大部分製造都位於馬薩諸塞州皮博迪，距離波士頓以北僅15英里。
為什麼選擇International Light
為什麼您要與ILT合作來面對您最近的挑戰？我們所做的就是創新和解決問題。我們擁有半個多世紀的經驗，與各種類型和規模的公司以及廣泛的行業合作，提供解決棘手障礙的產品和解決方案。ILT在電氣、光學、機械、質量和製造工程領域僱傭了一支技能高超的專家團隊。我們的員工將與您合作，確保您獲得適合您的解決方案，無論是現成的還是量身定製的。在當今動盪的環境中，大公司都在努力跟上，許多進入者來來往往，ILT繼續提供解決問題、按照高質量標準設計和製造、能夠快速且經濟高效地推向市場的產品和解決方案。
我們提供的產品
我們提供一系列光測量產品和設備，包括光度計、輻射計、光譜光度計和光譜輻射計，適用於紫外線、可見光和紅外測量。我們還提供配套配件，包括探測器、濾波器、輸入光學器件、積分球和校準。我們設計我們的產品以承受從水下應用到直接暴露在高水平紫外線下，再到持續使用所需的許多苛刻應用。
UVGI抗微生物/消毒紫外線測量儀：
用於測量低\中壓汞光源、UV-C LED和準分子光源-240-310 nm
ILT960便攜式緊湊型光譜儀
我們對客戶的承諾
在ILT，我們致力於為客戶提供高質量的產品、及時禮貌的客戶服務和技術支持。我們意識到，我們製造的大部分產品最終都是為客戶提供解決方案的一部分。當您與ILT合作時，您可以相信我們會支持我們的產品，並解決任何問題。
我們對質量的承諾
ILT致力於為客戶提供高質量的產品和服務。我們的員工使用優良的工具來確保我們的所有產品的設計和製造都符合我們對耐用性、可靠性、功效和成本效益的嚴格要求。
為了確保這一承諾得到理解、實施和維護，我們的所有員工都熟悉我們的政策，並通過培訓和訪問我們的質量手冊瞭解他們在質量體系中的要求。我們是一家通過ISO9001:2015質量管理認證的組織，我們的所有產品都有保修支持。ILT還通過了ISO13485:2016認證。
ILT是ISO/IEC 17025:2017認證實驗室。該認證使我們能夠校準ILT品牌和非ILT品牌的表和分光輻射計。請訪問我們的校準頁面，查看我們的所有校準服務。
EOT - 相干EOC
相干EOC是一家光子學公司，位於美國密歇根州，專門為需要創新可靠解決方案的OEM客戶設計、開發和製造關鍵的激光組件和子系統。
主要產品包含：
- ● 高功率和低功率自由空間隔離器
- ● 光纖耦合隔離器
- ● 光纖端接器/準直器
- ● 光電探測器系列
從工業製造到國家實驗室和太空準備系統，EOC利用其光纖和大塊光學設計經驗的獨特組合，成為各行業的重要技術合作夥伴。
EOC在激光器領域的解決方案
| Lasers 激光類型 | Wavelength波長 (nm) |
自由空間 旋轉器或隔離器 |
光纖到光纖和光纖到自由空間隔離器 | 探測器 |
| PW & TW 激光系統 | 700~1100 | √ | √ | √ |
| kW+ 固態 & 光纖激光器 | 1000~1100 | √ | √ | |
| 固態激光器 (從fs至CW) 最大1 kW |
700~1100 |
√ | √ | √ |
| 固態激光器 (fs至CW) 至1 kW | 1100~1700 | √ | √ | √ |
| 固態激光器 (fs至CW) 至1 kW | 515~700 | √ | √ | |
| 固態激光器 (fs至CW) 至1 kW | 1700~2800 | √ | √ | |
| 固態激光器 (fs至CW) 至1 kW | 350~515 | √ | √ | |
| Yb, Er, & Tm 光纖激光器 | 1064,1550, 1950~2050 | √ | √ | √ |
| Diode lasers 半導體激光器 | 350~1500 | √ | √ | |
| QCLs 量子級聯激光器 | 3200~10600 | √ | ||
| CO? 激光器 | 9400~10600 | √ | √ |
EOC與光電探測器
- ● EOC自1987年即開始製造光電探測器
- ● EOC的光電探測器在世界各地的實驗室中用於脈衝寬度測量和脈衝輪廓應用，如監測脈衝激光器、鎖模激光器和外部調製連續激光器的輸出
- ● EOC的所有光電探測器都是為易於使用而設計的，交付後即可用於實驗室
光電探測器基本知識
- ● 光電二極管通過光電效應將光子轉換為電子。EOC的光電探測器由光電二極管、相關電路、電源和外殼組成。
- ● 光電二極管中有意義的參數是光電二極管材料、有效區域、響應度、上升時間、下降時間、帶寬和噪聲等效功率（NEP）。
- ● 要使用的激光器的波長將確定所需的光電二極管材料。硅探測器（ET-2xxx和ET-4000）用於190 nm到1100 nm，InGaAs探測器（ET-3xxx）用於900 nm到1700 nm，GaAs檢測器（ET-4000）用於400 nm到900 nm，2um（ET-5000）用於1475-2100nm。
- ● 有效區域是發生光子/電子轉換的地方；它的形狀通常是圓形的。理想情況下，激光束直徑應略小於有效區域直徑，以確保最大探測器輸出。
- ● 響應度，單位為安培/瓦（A/W），是光電二極管在給定輸入功率下的電流輸出，並由二極管結構確定。響應度隨波長和二極管材料而變化。
- ● 脈衝的上升和下降時間受光電二極管的結電容的影響。較大的結電容將減慢探測器的響應時間。如果從ET-2030中去掉偏置電壓，則可以看到這種效果：脈衝的下降沿將從約10 ns延伸到50 ns。
- ● 帶寬和上升時間可以通過以下等式近似相關：帶寬≈0.35/上升時間
- ● NEP是響應度和暗電流的函數，是輸出信噪比為1所需的最小光功率。
光電探測器的使用
EOC探測器的產品範圍：
